檢測(cè)項(xiàng)目

插拔力測(cè)試。

適用范圍

電子元器件、插座、插頭、連接器、電子插頭、金手指、卡槽等。

相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ANSI/EIA-364-94-2009 電連接器絕緣位移觸點(diǎn)(IDC)的橫向插拔力試驗(yàn)程序

DLA DSCC-DWG-85033 REV G-2001 無插拔力的金屬的插件導(dǎo)軌電卡座

NF L54-002-055-1999 航空航天系列.電氣及光學(xué)連接的元件.試驗(yàn)方法.第412部分:觸點(diǎn)插拔力

檢測(cè)報(bào)告注意事項(xiàng)

1、報(bào)告無“研究測(cè)試專用章”或公章無效，報(bào)告無防偽二維碼無效;

2、復(fù)制報(bào)告未重新加蓋“研究測(cè)試專用章”或公章無效;

3、報(bào)告無主檢、審核、批準(zhǔn)人簽字無效;

4、報(bào)告涂改無效;

5、對(duì)檢測(cè)報(bào)告若有異議，應(yīng)于收到報(bào)告之日起十五日內(nèi)提出，逾期不予受理;