檢測項目
外形尺寸偏差、材質(zhì)分析、封裝質(zhì)量、電源電壓、輸入高電平電壓、輸入低電平電壓、輸入高電平電流、輸入低電平電流、輸出短路電流、*高工作頻率、傳輸時間等。
適用范圍
DML觸發(fā)器、DDL觸發(fā)器、登錄觸發(fā)器、RS觸發(fā)器、D觸發(fā)器、同步觸發(fā)器等。
相關檢測標準
SJ/T 10078-1991 電子元器件詳細規(guī)范.半導體集成電路CT54107/CT74107型雙主從J-K觸發(fā)器(有清除端)
SJ/T 10068-1991 電子元器件詳細規(guī)范.半導體集成電路CH2005型雙下降沿J-K觸發(fā)器
SJ/T 10043-1991 電子元器件詳細規(guī)范.半導體集成電路.CT54LS112/CT74LS112型雙下降沿J-K觸發(fā)器(有預置端、清除端)
GB/T 19655-2005 燈用附件 啟動裝置(輝光啟動器除外)性能要求
SJ 20161-1992 半導體集成電路JT54LS273(373、374和377)型LS-TTL可級聯(lián)觸發(fā)器詳細規(guī)范
GB/T 13259-2005 高壓鈉燈
SJ 50597.2-1994 半導體集成電路JH2014型HTL觸發(fā)器詳細規(guī)范
GB 7000.1-2007 燈具 第1部分: 一般要求與試驗
辦理檢測報告的目的
1、評定產(chǎn)品質(zhì)量的好壞;
2、判斷產(chǎn)品質(zhì)量等級，即缺陷嚴重程度;
3、對工藝流程進行檢驗和工序質(zhì)量的監(jiān)督;
4.對質(zhì)量數(shù)據(jù)進行搜集統(tǒng)計與分析，以便為質(zhì)量改進與質(zhì)量管理活動的開展奠定基礎;
5.引入仲裁檢驗判斷質(zhì)量事故責任。
檢測報告的注意事項
1.報告中沒有“研究測試專用章”和公章，報告沒有防偽二維碼無效;
2.復制的報告不復蓋“研究測試專用章”或者公章無效;
3.報告沒有主檢，審查，審批人員簽名無效;
4.涂改報告無效的;
5.檢測報告如有異議，應當在收到報告后15日內(nèi)提出，逾期不予受理;
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