檢測(cè)項(xiàng)目
外觀、機(jī)殼強(qiáng)度、外殼防護(hù)等級(jí)、整機(jī)質(zhì)量、探測(cè)靈敏度、運(yùn)動(dòng)速度、報(bào)警聲音、機(jī)械應(yīng)力、電磁兼容性等。
適用范圍
手持型金屬探測(cè)器、輸送型金屬探測(cè)器、下落式金屬探測(cè)器、管道式金屬探測(cè)器、真空式金屬探測(cè)器、壓力式金屬探測(cè)器、平板式金屬探測(cè)器、無(wú)線式金屬探測(cè)器、地下型金屬探測(cè)器等。
相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
GB 12899-2018 手持式金屬探測(cè)器通用技術(shù)規(guī)范
GB/T 25345-2010 食品金屬探測(cè)器
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊
GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed：自由跌落
GB/T 2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc：振動(dòng)(正弦)
GB/T 4208-2017 外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼)
GB 4793.1-2007 測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求 第1部分：通用要求
GB/T 6587-2012 電子測(cè)量?jī)x器通用規(guī)范
GB/T 17626.2-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)
GB/T 17626.3-2016 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
檢測(cè)報(bào)告注意事項(xiàng)
1、報(bào)告無(wú)“研究測(cè)試專用章”或公章無(wú)效，報(bào)告無(wú)防偽二維碼無(wú)效;
2、復(fù)制報(bào)告未重新加蓋“研究測(cè)試專用章”或公章無(wú)效;
3、報(bào)告無(wú)主檢、審核、批準(zhǔn)人簽字無(wú)效;
4、報(bào)告涂改無(wú)效;
5、對(duì)檢測(cè)報(bào)告若有異議，應(yīng)于收到報(bào)告之日起十五日內(nèi)提出，逾期不予受理;
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