外觀、外殼防護(hù)等級(jí)、電源適應(yīng)性、輻射磁感應(yīng)強(qiáng)度、探測(cè)靈敏度范圍、運(yùn)行速度、報(bào)警響應(yīng)時(shí)間、穩(wěn)定工作時(shí)間、康相互干擾性能、電氣安全性等。
金屬探測(cè)門(mén)等。
GB 15210-2018 通過(guò)式金屬探測(cè)門(mén)通用技術(shù)規(guī)范
MH 7012-2004 民用航空通過(guò)式金屬探測(cè)門(mén)
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
GB/T2423.2一2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
GB/T2423.3一2016環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T2423.5-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊
GB/T2423.10一2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc:振動(dòng)(正弦)
GB/T4208一2017外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼)
GB4793.1一2007測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求第1部分:通用要求
GB/T6587一2012電子測(cè)量?jī)x器通用規(guī)范
GB16796一2009安全防范報(bào)警設(shè)備安全要求和試驗(yàn)方法
GB/T17626.2-2006電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.3-2016電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
GB/T17626.5-2008電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)
1、報(bào)告無(wú)“研究測(cè)試專用章”或公章無(wú)效,報(bào)告無(wú)防偽二維碼無(wú)效;
2、復(fù)制報(bào)告未重新加蓋“研究測(cè)試專用章”或公章無(wú)效;
3、報(bào)告無(wú)主檢、審核、批準(zhǔn)人簽字無(wú)效;
4、報(bào)告涂改無(wú)效;
5、對(duì)檢測(cè)報(bào)告若有異議,應(yīng)于收到報(bào)告之日起十五日內(nèi)提出,逾期不予受理;
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