檢測(cè)項(xiàng)目
瞬態(tài)熱阻測(cè)試等。
適用范圍
二*管、功率器件、半導(dǎo)體、晶體管等。
相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
DB52/T 1104-2016 半導(dǎo)體器件結(jié)-殼熱阻瞬態(tài)測(cè)試方法
JJG(電子) 04016-1988 BJ2984(QR-3)型晶體三*管瞬態(tài)熱阻測(cè)試儀試行檢定規(guī)程
GB/T 11499 半導(dǎo)體分立器件文字符號(hào)
GB/T 14862 半導(dǎo)體集成電路封裝結(jié)到外殼熱阻測(cè)試方法
GJB 548B 微電子器件試驗(yàn)方法和程序
冷卻曲線法測(cè)試原理
通過對(duì)被測(cè)器件施加一恒定的加熱功率，使被測(cè)器件的管芯溫度(結(jié)溫)升高，達(dá)到熱平衡后，切斷加熱功率，不斷測(cè)試被測(cè)器件的結(jié)溫，直至達(dá)到冷態(tài)平衡，作出結(jié)溫隨時(shí)間的變化曲線，利用結(jié)溫隨時(shí)間的變化曲線計(jì)算出瞬態(tài)熱阻抗ZthU-c曲線;通過給被測(cè)器件的管殼施加兩種不同的散熱方式，作出兩條瞬態(tài)熱阻抗zthu-c曲線，將兩條瞬態(tài)熱阻抗Zthu-c)曲線繪制在同一坐標(biāo)系中，兩條瞬態(tài)熱阻抗Zthu-o曲線的分離點(diǎn)的Zthu-0即為半導(dǎo)體器件結(jié)-殼熱阻RthUc)。
檢測(cè)報(bào)告注意事項(xiàng)
1、報(bào)告無“研究測(cè)試專用章”或公章無效，報(bào)告無防偽二維碼無效;
2、復(fù)制報(bào)告未重新加蓋“研究測(cè)試專用章”或公章無效;
3、報(bào)告無主檢、審核、批準(zhǔn)人簽字無效;
4、報(bào)告涂改無效;
5、對(duì)檢測(cè)報(bào)告若有異議，應(yīng)于收到報(bào)告之日起十五日內(nèi)提出，逾期不予受理;
以上文章內(nèi)容為部分列舉，更多檢測(cè)需求及詳情免費(fèi)咨詢機(jī)構(gòu)在線顧問：18501763637
百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)提供農(nóng)藥檢測(cè)、化肥檢測(cè)出、農(nóng)殘檢測(cè)、食品檢測(cè)、藥物檢測(cè)、有毒有害物質(zhì)檢測(cè)報(bào)告等。需要相關(guān)檢測(cè)服務(wù)的客戶可以在線留言或者直接聯(lián)系我們：18501763637