檢測項(xiàng)目

間歇壽命試驗(yàn)等。

適用范圍

PCB、電容、電阻、電感器件、電聲器件、磁材料及器件、電接插元件等。

相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)

DB61/T 1448-2021 大功率半導(dǎo)體分立器件間歇壽命試驗(yàn)規(guī)程

GB/T 15651.4-2017 半導(dǎo)體器件 分立器件 第5-4部分:光電子器件 半導(dǎo)體激光器

GB/T 29332-2012 半導(dǎo)體器件 分立器件 第9部分：絕緣柵雙*晶體管(IGBT)

GB/T 21039.1-2007 半導(dǎo)體器件 分立器件 第4-1部分:微波二*管和晶體管 微波場效應(yīng)晶體管空白詳細(xì)規(guī)范

GB/T 20516-2006 半導(dǎo)體器件 分立器件 第4部分:微波器件

GB/T 4589.1-2006 半導(dǎo)體器件 第10部分:分立器件和集成電路總規(guī)范

GB/T 13150-2005 半導(dǎo)體器件 分立器件 電流大于 100A、環(huán)境和管殼額定的雙向三*晶閘管空白詳細(xì)規(guī)范

GB/T 13151-2005 半導(dǎo)體器件 分立器件 第6部分;晶閘管 第三篇 電流大于100A、環(huán)境和管殼額定的反向阻斷三*晶閘管空白詳細(xì)規(guī)范

GB/T 15651.2-2003 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-2部分;光電子器件基本額定值和特性

GB/T 15651.3-2003 半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-3部分;光電子器件測試方法

GB/T 6589-2002 半導(dǎo)體器件 分立器件 第3-2部分;信號(包括開關(guān))和調(diào)整二*管電壓調(diào)整二*管和電壓基準(zhǔn)二*管(不包括溫度補(bǔ)償精密基準(zhǔn)二*管)空白詳細(xì)規(guī)范

GJB 128A-97 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

檢測報(bào)告注意事項(xiàng)

1、報(bào)告無“研究測試專用章”或公章無效，報(bào)告無防偽二維碼無效;

2、復(fù)制報(bào)告未重新加蓋“研究測試專用章”或公章無效;

3、報(bào)告無主檢、審核、批準(zhǔn)人簽字無效;

4、報(bào)告涂改無效;

5、對檢測報(bào)告若有異議，應(yīng)于收到報(bào)告之日起十五日內(nèi)提出，逾期不予受理;

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