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檢測(cè)知識(shí)
單晶硅檢測(cè)
日期:2023-07-27 16:12:02瀏覽:0

單晶硅檢測(cè)如何辦理?單晶硅檢測(cè)檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?百檢檢測(cè)可為您提供材料等相關(guān)檢測(cè)服務(wù)。

檢測(cè)周期:3-15個(gè)工作日(可加急)

報(bào)告資質(zhì):CNAS、CMA、CAL等

單晶硅檢測(cè)范圍:

單晶硅棒,單晶硅錠,單晶硅板,單晶硅料,碳化硅單晶片

單晶硅檢測(cè)項(xiàng)目:

晶向檢測(cè),全氧含量檢測(cè),成分檢測(cè),含量檢測(cè),純度檢測(cè),質(zhì)量檢測(cè),金屬含量檢測(cè),拉曼光譜檢測(cè),碳含量檢測(cè)等。

單晶硅檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):

GB/T35306-2017硅單晶中碳、氧含量的測(cè)定

GB/T12962-2015硅單晶

GB/T32278-2015碳化硅單晶片平整度測(cè)試

GB/T30656-2014碳化硅單晶拋光片

GB/T31351-2014碳化硅單晶拋光片微管密度無(wú)損檢測(cè)

GB/T30866-2014碳化硅單晶片直徑測(cè)試

GB/T30867-2014碳化硅單晶片厚度和總厚度變化測(cè)試

GB/T30868-2014碳化硅單晶片微管密度的測(cè)定

GB/T26065-2010硅單晶拋光試驗(yàn)片規(guī)范

GB/T25076-2010太陽(yáng)電池用硅單晶

GB/T1551-2009硅單晶電阻率測(cè)定

GB/T24581-2009低溫傅立葉變換紅外光譜法測(cè)量硅單晶中Ⅲ、Ⅴ族雜質(zhì)含量的測(cè)試

YB1602-1983硅單晶

檢測(cè)流程步驟

1、電話(huà)溝通、確認(rèn)需求;

2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);

3、郵寄樣品、安排檢測(cè);

4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報(bào)告、售后服務(wù);

6、如需加急、優(yōu)先處理;

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