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檢測知識
片式壓敏電阻器檢測
日期:2022-12-20 15:09:54瀏覽:0
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電子設(shè)備用壓敏電阻器第4部分:分規(guī)范片式壓敏電阻器

1范圍

本規(guī)范規(guī)定了片式壓敏電阻器的額定值、優(yōu)先值、特性和質(zhì)量評定程序,并補充了相關(guān)術(shù)語、試驗和測量方法。

本規(guī)范適用于電子設(shè)備用片式壓敏電阻器,它具有金屬化焊接區(qū),能夠直接安裝在混合集成電路的基片或印制板上。

詳細規(guī)范中引用本規(guī)范規(guī)定的試驗嚴(yán)酷等級和要求時應(yīng)具有相同或更高的性能水平,不允許降低性能水平。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其*新版本(包括所有修改單)適用于本文件。

GB/T 10193-1997電子設(shè)備用壓敏電阻器第1部分:總規(guī)范(idt IEC1051-1:1991)

GB/T 17626.2—1998電磁兼容試驗與測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗

GB/T 2421---1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分:總則

GB/T2423.3—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗﹒第2部分:試驗方法﹐試驗Cab:恒定濕熱試驗

GB/T 2423.5=--1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法﹐試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊

GB/T 2423.6-一1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞

GB/T 2423.29—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法﹑試驗U:引出端及整體安裝件強度

SJ/T 11167敏感元器件及傳感器命名方法

SJ/T 11200—1999環(huán)境試驗﹒第2部分:試驗方法——試驗

Td:表面組裝元器件的可焊性、金屬化層耐熔蝕性和耐焊接熱