檢測(cè)項(xiàng)目
外觀和外形尺寸、安裝尺寸、環(huán)境試驗(yàn)、局部放電試驗(yàn)、濕度試驗(yàn)、嚴(yán)酷氣候條件下的試驗(yàn)、模擬地面上的太陽(yáng)輯射試驗(yàn)、熱穩(wěn)定性試驗(yàn)、工頻耐壓試驗(yàn)等。
適用范圍
固封*柱等。
相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
JB/T 11203-2011 高壓交流真空開(kāi)關(guān)設(shè)備用固封*柱
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc：振動(dòng)(正弦)
GB/T 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb：鹽霧，交變(氯化鈉溶液)
GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輻射
GB/T 2424.13-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2900.20-1994 電工術(shù)語(yǔ) 高壓開(kāi)關(guān)設(shè)備
GB 3906-2006 3.6kV~40.5kV交流金屬封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備
GB/T 11022-2011 高壓開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的共用技術(shù)要求
GB/T 13384-2008 機(jī)電產(chǎn)品包裝通用技術(shù)條件
JB/T 8738-2008 高壓交流開(kāi)關(guān)設(shè)備用真空滅弧室
辦理檢測(cè)報(bào)告的目的
1、評(píng)定產(chǎn)品質(zhì)量的好壞;
2、判斷產(chǎn)品質(zhì)量等級(jí)，即缺陷嚴(yán)重程度;
3、對(duì)工藝流程進(jìn)行檢驗(yàn)和工序質(zhì)量的監(jiān)督;
4.對(duì)質(zhì)量數(shù)據(jù)進(jìn)行搜集統(tǒng)計(jì)與分析，以便為質(zhì)量改進(jìn)與質(zhì)量管理活動(dòng)的開(kāi)展奠定基礎(chǔ);
5.引入仲裁檢驗(yàn)判斷質(zhì)量事故責(zé)任。
檢測(cè)報(bào)告的注意事項(xiàng)
1.報(bào)告中沒(méi)有“研究測(cè)試專用章”和公章，報(bào)告沒(méi)有防偽二維碼無(wú)效;
2.復(fù)制的報(bào)告不復(fù)蓋“研究測(cè)試專用章”或者公章無(wú)效;
3.報(bào)告沒(méi)有主檢，審查，審批人員簽名無(wú)效;
4.涂改報(bào)告無(wú)效的;
5.檢測(cè)報(bào)告如有異議，應(yīng)當(dāng)在收到報(bào)告后15日內(nèi)提出，逾期不予受理;
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